<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">ikbgu</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия Кабардино-Балкарского государственного университета</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Proceedings of the Kabardino-Balkarian State University</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2221-7789</issn><publisher><publisher-name>Kabardino-Balkarian State University named after Kh. M. Berbekov</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.31143/2221-7789-2024-3-43-47</article-id><article-id custom-type="edn" pub-id-type="custom">WAJCAN</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">ikbgu-119</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Физика</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>Physics</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ВЛИЯНИЯ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ И ИОННЫХ ЛУЧЕЙ НА ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА ОКСИДНЫХ ПЛЕНОК ТИТАНА</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>EFFECTS OF THE INTERACTION OF ELECTRON AND ION BEAMS ON THE SURFACE PROPERTIES OF TITANIUM OXIDE FILMS</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Черкесова</surname><given-names>Н В</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Cherkesova</surname><given-names>N V</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">natasha07_2002@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мустафаев</surname><given-names>Г А</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Mustafaev</surname><given-names>G A</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">natasha07_2002@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мустафаев</surname><given-names>А Г</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Mustafaev</surname><given-names>A G</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Дагестанский государственный университет народного хозяйства</p></bio><email xlink:type="simple">natasha07_2002@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Kabardino-Balkarian State University</institution></aff></aff-alternatives><aff xml:lang="en" id="aff-2"><institution>Dagestan State University of National Economy</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2024</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>30</day><month>09</month><year>2024</year></pub-date><volume>14</volume><issue>3</issue><fpage>43</fpage><lpage>47</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Черкесова Н.В., Мустафаев Г.А., Мустафаев А.Г., 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Черкесова Н.В., Мустафаев Г.А., Мустафаев А.Г.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Cherkesova N.V., Mustafaev G.A., Mustafaev A.G.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izvestiakbsu.ru/jour/article/view/119">https://www.izvestiakbsu.ru/jour/article/view/119</self-uri><abstract><p>В работе изучено влияния взаимодействия электронных и ионных лучей с поверхностью образцов на результаты профилирования поверхностных слоев оксидов титана. Проведено исследование зави симости отношения амплитуды пика кислорода к амплитуде пика титана от времени бомбардировки, на образцах из TiO2 и из TiO. Показано, что электронная бомбардировка оксидной поверхности, происходящая одновременно с ионной бомбардировкой, стимулирует образование карбидов. Влияние электронной бомбардировки на стехиометрию поверхностных слоев зависит от того, производится ли распыление поверхности ионной бомбардировкой.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The interaction of electron and ion rays with sample surfaces is investigated in relation to the findings of surface layer profiling in titanium oxides. The relationship between the ratio of the amplitude of the oxygen peak to the amplitude of the titanium peak and bombardment duration was investigated on TiO2 and TiO sam- ples. It is demonstrated that electron bombardment of the oxide surface, along with ion bombardment, pro- motes carbide production. The effect of electron bombardment on surface layer stoichiometry is determined by whether the surface has been sprayed with ions</p><p> </p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>оксид титана</kwd><kwd>электронная бомбардировка</kwd><kwd>плотность ионного тока</kwd><kwd>стехиометрия</kwd><kwd>концентрация</kwd><kwd>напряжение модуляции</kwd><kwd>плотность электронного луча</kwd><kwd>адсорбции углерода.</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>titanium oxide</kwd><kwd>electron bombardment</kwd><kwd>ion current density</kwd><kwd>stoichiometry</kwd><kwd>concentration</kwd><kwd>modulation voltage</kwd><kwd>electron beam density</kwd><kwd>carbon adsorption.</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Калыгина В.М., Егорова И.М., Прудаев И.А., Толбанов О.П. Механизм проводимости пленок оксида титана и структур металл−TiO2−Si // Физика и техника полупроводников. 2016. Т. 50, № 8. С. 1036.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Калыгина В.М., Егорова И.М., Прудаев И.А., Толбанов О.П. Механизм проводимости пленок оксида титана и структур металл−TiO2−Si // Физика и техника полупроводников. 2016. Т. 50, № 8. С. 1036.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fujishima A., Honda K. Electrochemical Photolysis of Water at a Semiconductor Electrode // Nature. 1972. V. 238, N 5358. P. 37.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fujishima A., Honda K. Electrochemical Photolysis of Water at a Semiconductor Electrode // Nature. 1972. V. 238, N 5358. P. 37.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Schneider J., Matsuoka M., Takeuchi M., Zhang J., Horiuchi Y., Anpo M., Bahnemann D.W. Under- standing TiO2 Photocatalysis: Mechanisms and Materials // Chem. Rev. 2014. V. 114, N 19. P. 9919.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Schneider J., Matsuoka M., Takeuchi M., Zhang J., Horiuchi Y., Anpo M., Bahnemann D.W. Under- standing TiO2 Photocatalysis: Mechanisms and Materials // Chem. Rev. 2014. V. 114, N 19. P. 9919.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пармон В.Н. Фотокаталитическое преобразование солнечной энергии: Гетерогенные, гомоген- ные и молекулярные структурно-организованные системы: сборник научных трудов. Новосибирск: Наука, 1991. С. 7.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пармон В.Н. Фотокаталитическое преобразование солнечной энергии: Гетерогенные, гомоген- ные и молекулярные структурно-организованные системы: сборник научных трудов. Новосибирск: Наука, 1991. С. 7.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ochiai T., Fujishima A. Photoelectrochemical properties of TiO2 photocatalyst and its applications for environmental purification // J. Photochem. Photobiol. C. 2012. V. 13, N 4. P. 247.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ochiai T., Fujishima A. Photoelectrochemical properties of TiO2 photocatalyst and its applications for environmental purification // J. Photochem. Photobiol. C. 2012. V. 13, N 4. P. 247.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бриггса Д. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроско- пии / под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. 600 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бриггса Д. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроско- пии / под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. 600 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. М.: Мир, 1989. 564 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. М.: Мир, 1989. 564 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фельдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир, 1989. 564 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фельдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир, 1989. 564 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок: учеб. пособие. М.: МГУ, 1992. 94 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок: учеб. пособие. М.: МГУ, 1992. 94 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Никитенков Н.Н. Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2012. 202 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Никитенков Н.Н. Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2012. 202 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
