ikbguИзвестия Кабардино-Балкарского государственного университетаProceedings of the Kabardino-Balkarian State University2221-7789Kabardino-Balkarian State University named after Kh. M. Berbekov10.31143/2221-7789-2023-1-21-24CILGUHikbgu-218Research ArticleФизикаPhysicsДИНАМИЧЕСКАЯ СИЛА ВАН-ДЕР-ВААЛЬСА ПРИ ДВИЖЕНИИ ЗОНДА АСМ ПАРАЛЛЕЛЬНО ПОВЕРХНОСТИDYNAMICAL VAN-DER-WAALS FORCES ON AN AFM PROBE MOVING PARALLEL TO A SURFACEКанаметовА. А.KanametovA. A.kanametov_a@mail.ruКодзоковА. Х.KodzokovA. Kh.kanametov_a@mail.ruКабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. БербековаKabardino-Balkarian State University2023310320231312124Copyright © Канаметов А.А., Кодзоков А.Х., 20232023Канаметов А.А., Кодзоков А.Х.Kanametov A.A., Kodzokov A.K.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.izvestiakbsu.ru/jour/article/view/218

В незапаздывающем аддитивном приближении получены выражения для динамического взаимодействия нанозонда атомно-силового микроскопа в геометрии конуса со сферическим окончанием с плоской поверхностью в случае, когда движение нанозонда происходит параллельно поверхности. Показано, что ван-дер-ваальсова сила трения значительно меньше силы статического притяжения.

In the frame of nonretarded additivity approximation an expressions for the dynamical Van-der-Waals forces, obtained for the geometry of a neutral nanoprobe in the form of cone with spherical apex moving parallel to a flat surface are presented. The results shows that frictional forces are much smaller than the static attractional one.

ван-дер-ваальсова сила трениянанозондтонкие пленкиатомно-силовая микроскопия и спектроскопия.frictional Van-der-Waals forcesnanoprobethin filmsatomic force microscopy and spectroscopy.ReferencesGuggisberg M., Bammerlin M., Loppacher Ch., et. al. Separation of interactions by noncontact force microscopy // Phys. Rev. 2000. V. B61, N 16. P. 11151–11178.Guggisberg M., Bammerlin M., Loppacher Ch., et. al. Separation of interactions by noncontact force microscopy // Phys. Rev. 2000. V. B61, N 16. P. 11151–11178.Argento C. and French R.H. Parametric tip model and force-distance relation for Hamaker constant determination from atomic force microscopy // Appl. Phys. 1996. V. 80. P. 6081.5Argento C. and French R.H. Parametric tip model and force-distance relation for Hamaker constant determination from atomic force microscopy // Appl. Phys. 1996. V. 80. P. 6081.5Saint Jean M., Hudlet S., Gutmann C., Berger J. Van der Waals and capacitive forces in atomic force microscopy // J. Appl. Phys. 1999. V. 86, N 9. P. 5245–5251.Saint Jean M., Hudlet S., Gutmann C., Berger J. Van der Waals and capacitive forces in atomic force microscopy // J. Appl. Phys. 1999. V. 86, N 9. P. 5245–5251.Дедков Г.В., Кясов А.А. Электромагнитное и флуктуационно-электромагнитное взаимодейст- вие движущихся частиц и нанозондов с поверхностями. Нерелятивистское рассмотрение // ФТТ. 2004. Т. 44, № 10. С. 1729–1763.Дедков Г.В., Кясов А.А. Электромагнитное и флуктуационно-электромагнитное взаимодейст- вие движущихся частиц и нанозондов с поверхностями. Нерелятивистское рассмотрение // ФТТ. 2004. Т. 44, № 10. С. 1729–1763.Канаметов А.А., Кармоков А.М., Лосанов Х.Х., Жабоев Ж.Ж. Ван-дер-Ваальсова сила трения АСМ-зонда, движущегося вблизи гладкой диэлектрической поверхности // Прикладная физика. 2017.Канаметов А.А., Кармоков А.М., Лосанов Х.Х., Жабоев Ж.Ж. Ван-дер-Ваальсова сила трения АСМ-зонда, движущегося вблизи гладкой диэлектрической поверхности // Прикладная физика. 2017.№ 6. С. 10–14.№ 6. С. 10–14.Дедков Г.В., Канаметов А.А., Дедкова Е.В. Электростатические и ван-дер-ваальсовы силы в воздушном контакте зонда атомно-силового микроскопа с проводящей поверхностью // ЖТФ. 2009. Т. 79, № 12. С. 79–85.Дедков Г.В., Канаметов А.А., Дедкова Е.В. Электростатические и ван-дер-ваальсовы силы в воздушном контакте зонда атомно-силового микроскопа с проводящей поверхностью // ЖТФ. 2009. Т. 79, № 12. С. 79–85.Dedkov G.V., Kanametov A.A. Electrostatic friction force on an AFM probe moving near sample sur- face // Technical Physics. 2018. V. 63, N 11. P. 1553–1559.Dedkov G.V., Kanametov A.A. Electrostatic friction force on an AFM probe moving near sample sur- face // Technical Physics. 2018. V. 63, N 11. P. 1553–1559.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.