Перейти к:
ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И РАСПРЕДЕЛЕНИЕ КОМПОНЕНТОВ В КОНТАКТНЫХ ПРОСЛОЙКАХ ПРИ НАЛИЧИИ ЭЛЕКТРОПЕРЕНОСА В СИСТЕМЕ Bi – (Sn + 3 ат % In)
Аннотация
Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии установлено влияние примесей и электропереноса на фазообразование и кинетику процесса контактного плавления в системе Bi – (Sn + 3 ат.
% In). Не обнаружены химсоединения между Bi и In. Подтверждена стадийность образования жидкой фазы при контактном плавлении. Показано, что замедляющее направление тока «остановило» формирование и рост приконтактной области со стороны Bi. Обнаружено увеличение концентрации In (более чем в 2 раза) в приконтактной области чистого Bi по сравнению с концентрацией, содержащейся в контактируемом твердом растворе (Sn+3ат% In), что характерно для бестокового и замедляющего вариантов опытов.
Ключевые слова
Для цитирования:
Ахкубеков А.А., Ахкубекова С.Н., Узденов Э.М. ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И РАСПРЕДЕЛЕНИЕ КОМПОНЕНТОВ В КОНТАКТНЫХ ПРОСЛОЙКАХ ПРИ НАЛИЧИИ ЭЛЕКТРОПЕРЕНОСА В СИСТЕМЕ Bi – (Sn + 3 ат % In). Известия Кабардино-Балкарского государственного университета. 2022;12(4):20-25.
For citation:
Akhkubekov A.A., Akhkubekova S.N., Uzdenov E.M. PHASE COMPOSITION, DISTRIBUTION OF COMPONENTS IN THE DIFFUSION ZONE OF CONTACT LAYERS IN THE PRESENCE OF ELECTRIC TRANSFER IN THE Bi – (Sn + 3 at % In) SYSTEM. Proceedings of the Kabardino-Balkarian State University. 2022;12(4):20-25. (In Russ.)
Введение
В настоящее время весьма актуальна проблема создания новых легкоплавких припоев, не содержащих свинец, ртуть и др. [1]. Часто их заменяют оловом, индием, висмутом, медью, серебром и т. д. В то же
время полученные сплавы должны сохранять механические и физико-химические характеристики: коррозионную стойкость, тепло и электропроводность и т. д. [2]. Поэтому при решении указанной проблемы весьма важную роль играет использование ресурсо- и энергосберегающие технологии и методы их осуществления.
Объектом исследования выбрана система Bi – (Sn + 3 ат. % In), как система, отвечающая многим требованиям, описанным выше: бессвинцовая, низкотемпературная, содержащая примесь и т. д. В связи с этим получение контактных прослоек указанной системы, исследование структурообразования, концентрационного распределения вдоль диффузионной зоны, образующееся в процессе контактного плавления (КП) при наличии тока, расчёт коэффициента диффузии, имеет научное и прикладное значение.
Целью данного исследования является более углубленное изучение структуры и диффузионных процессов на различных стадиях КП в системе Bi – (Sn + 3 ат. % In) при наличии или отсутствии электропереноса (ЭП) и установление роли примеси In в этих процессах.
Методика эксперимента
Методика проведения эксперимента описана, например, в [3, 4]. Чистота исходных элементов Bi, In и Sn составляла не менее 99,999 %. Твердый раствор (Sn + 3 ат. % In) приготавливался в жидком силиконовом масле при температуре не менее 250–300 °С, тщательно перемешивался и через определенное время втягивался в стеклянную трубку диаметром d = 3–3,2 мм. Протяжённость образцов составляла 3 см. Таким же способом подготавливались и образцы для контактирования из чистого жидкого висмута. Контактирование твердых образцов проводили в термостате при Т = 145 °С. Время проведения опытов составляло от 20 мин до 1 часа. Одновременно контактировалось 3 пары образцов, по двум из которых пропускался ток различных направлений. Плотность тока j = 0,4 А/мм2. .Третья пара была бестоковой. Ток различных направлений по-разному влияет на кинетику процесса КП: при одном направлении тока скорость υКП (υКП = δ/τ, где δ – протяженность контактной прослойки, τ – время опыта) увеличивается, при другом замедляется. Авторы [5] сформулировали «интегральный критерий массопереноса», объясняющий наблюдаемый эффект при КП при наличии электропереноса, согласно которому, с одной стороны, обнаруженный эффект связан с различием эффективных зарядов ионов Z* в различных жидких металлах потому и зависящий от полярности на образцах, с другой – со связью эффективных зарядов с параметрами диффузии (коэффициентами диффузии).
Результаты исследования
Структура и распределение компонентов в диффузионных зонах.
Как было отмечено в [6], исследования фазового и элементного состава контактных прослоек проводили на рентгеновском фотоэлектронном спектрометре «K-Alpha» в Центре коллективного пользования
«Физика поверхности, наностистем и технологии наноструктур» КБГУ.
- Исследование структур контактных прослоек методом рентгеновской фотоэлектронной спек-троскопии (РФЭС).
Результаты анализа химических состояний висмута, олова и индия показали, что энергии связи фотоэлектронных пиков и кинетические энергии оже-пиков не претерпевают заметных изменений на всем протяжении контактной прослойки. С другой стороны, интенсивность фотоэлектронных линий претерпевает значительные изменения в зависимости от координаты; фотоэмиссия изменяется по-разному на границах фаз: чистый Bi, приконтактная область, жидкость, исходный твердый раствор (Sn + 3 ат. % In), что закономерно, и вполне объективно описывает распределение концентраций металлов, участвующих в КП. Это означает, что величины оже-параметров, которые главным образом характеризуют химические состояния компонентов, сохраняются в любой точке контактной зоны и строго соответствуют металлическим состояниям: Bi (~261 эВ, [7]), Sn (922,2 эВ, [8]) и In(885,3 эВ, [9]), хотя диаграмма состояния системы In – Bi предполагает наличие интерметаллидов.
С целью изучения концентрационного распределения C(x) (C – концентрация, x – координата) олова, висмута и индия в контактной прослойке были сняты спектры фотоэлектронных линий Bi4f, Sn3d и In3d в 36 точках в режиме линейного сканирования и проанализированы для построения градиента распределения концентраций в области границ контакта висмута и олова. Полученные профили распределения компонентов были сопоставлены с увеличенными оптическими изображениями зоны контакта. Результаты пред-ставлены на рис. 1, 2 и 3.
- Распределение компонентов в зонах диффузии в исследуемой системе. Параметры эксперимента: Т = 145 °C , t = 20 мин, d = 2,75 мм, j = 0,4 А/мм2.
а) Бестоковый вариант, j = 0. На рис. 1 представлены концентрационные распределения компонентов
Сi(xi) (кривые 1, 2, 3) вдоль контактных прослоек, полученных при выше указанных условиях.
Кривая 1 характеризует изменение содержания Bi вдоль контактной прослойки, т. е. СBi (x) уменьшается от С = 98 ат. % Bi до C = 0, c соответствующими координатами: x = 1 мм и x = 3.9 мм. При этом общая протяженность контактной прослойки δ ≈ 3.9 мм., а жидкая часть δж ≈ 1,1 мм.
Если принять за точку отсчета точку пересечения кривых 1 и 2, т. е. при x = 3 мм, видно, что висмут практически не внедряется в олово.
Особый интерес вызывают появление изломов на СBi(x) между твёрдым Bi (C = 100 ат. % Bi, x = 0 мкм) и жидкой частью контактной прослойки (C ≈ 90 ат. % Bi, х ≈ 2,7 мм). Назовём эту часть предконтактной областью. На наш взгляд, наблюдаемый эффект связан со стадийностью процесса [3] образования переходной зоны, т. е. переходу Bi в жидкое состояние предшествует образование твердо-жидкой фазы вдоль границы Bi, связанной с зернограничной сегрегацией Sn и In, которая затем переходит в жидко-твердую фазу с последующим переходом в жидкую часть контактной прослойки.
Кривая 2 показывает изменение содержания олова в контактной прослойке. Видно, что СSn убывает при перемещении справа налево от СSn = 97 ат. % ( x = 3,9 мм) до CSn = 0 ат. % Sn (х = 0 мм).
В области от х = 0 до х ≈ 2.3 мм так же наблюдаются изломы на кривой СSn(х), что может быть, как отмечено выше, связано со стадийностью процесса.
В области x > 3.9 мм концентрация Bi стремится к 0, а СSn и СIn изменяется равномерно.
Как видно из рис. 1, кривая 3 характеризует распределение CIn(x) вдоль твердой области исследуемого твёрдого раствора (x > 4 мм), изменяется практически линейно и составляет примерно 3%. Несколько неожидаемым является факт повышения концентрации In от 3 % до 6–7 % в интервале менее 4 мм, что, воз-можно, связано с необычными состояниями Bi: усадкой объёма при переходе в жидкое состояние.
б) При наличии тока j = 0,4 А/мм2 (ускоряющий вариант), на Bi (–). Согласно рис. 2 протяженность всей контактной прослойки δ ≈ 5 мм, жидкой зоны δж ≈ 1,5 мм, т. е. больше чем бестоковом. Также из рис. 2 видно, что ток влияет на характер диффузии компонентов в контактной прослойке.
Согласно ходу кривой 1 среднее значение концентрации Bi и частота изломов уменьшилось. В то же время ток способствовал проник-новению Bi в исходный твердый раствор, а Sn в Bi (кривая 2), что, видимо, связано со структурными изменениями приконтактной области.
Анализ кривой 3 (рис. 2) показывает уменьшение In в Bi в отли-чие от бестокового варианта опыта, хотя наблюдается некоторая нерав-
x
Рис. 2. Распределение C (x)
Рис. 3. Распределение C (x)
номерность в СIn(x). Также видим постепенное увеличение СIn(x) вдоль исходного твёрдого раствора до границы с жидкой частью контактной прослойки, затем её постепенное уменьшение как вдоль жидкой части, так и вдоль приконтактной области, что связано с влиянием электрического тока в ускоряющем варианте.
в) При наличии тока j = 0,4 А/мм2 (замедляющий вариант), на Bi(+). В замедляющем варианте опыта, как видно из рис. 3, кривая 1, Sn и In практически не растворяются в Bi. Однако CBi (x) в приконтактной области претерпевает значительное число изломов, что говорит о структурных изменениях. Это, видимо, отражает преобладание твердо-жидкого состояния над жидко-твердым, т. е. происходит зернограничная сегрегация Sn и In. Как оказалось замедляющее направление тока «остановило» образование приконтактной области со стороны Bi, что привело к смещению точки пересечения в область высоких концентраций Sn и In (рис. 3).
Растворение Sn в Bi незначительно (рис. 3, кривая 2, xn = 0–3 мм). Однако, также как СBi(x) в CSn(x) претерпевает значительное количество изломов, что, видимо, также связано со структурными изменениями в висмуте.
Индий, кривая 3, в отличие от его поведения в бестоковом и ускоряющем вариантах опытов, практически не взаимодействует с чистым висмутом.
Таким образом, при Тэкс = 145 °С в исследуемой контактной прослойке наблюдается формирование следующих областей:
- Область чистого висмута. При температурах до 145 °С она остается в твердом состоянии.
- Приконтактная область, возникающая за счёт внедрения атомы Sn и In в Bi, посредством межкристаллитной диффузии, способствующей понижению температуры плавления чистого висмута, что, скорее всего, связано с глубоким проникновением индия и олова в объем висмута, т. е. проявляется стадийность процесса [3, 10] (твердое, твердо-жидкое, жидко-твердое, жидкое).
- Область жидкого состояния контактной прослойки, состав которой определяется 3х-компонентной диаграммой состояния системы Bi – Sn – In. При понижении температуры такая жидкость кристаллизируется с выделением 3х-компонентных кристаллов Bi, Sn и In. Составы этих кристаллов меняются с пониже-нием температуры.
- Область твердого раствора (Sn + 3 ат. % In), в котором практически не растворяется висмут в бес-токовом и замедляющем вариантах опытов и растворяющемся в ускоренном варианте.
- Область исходного твёрдого раствора (Sn + 3 ат. % In).
- Оценка коэффициента диффузии D по данным РФЭС.
Для расчета коэффициента диффузии D воспользуемся рис. 4, на котором приведено возможное распределение концентрации компонента в диффузионной зоне.
Запишем 1-е уравнение Фика для рассматриваемой плоскости Mx:
, (1)
Рис. 4. К выводу исходной формулы
где dm – количество молей, продиффундировавших через площадку dS за время dt, – градиент плотности компонента, n – плотность вещества [моль/м3], Ox – ось, направленная в сторону распространения висмута, n(x) – профиль распределения висмута, в общем случае неизвестная функция.
Как видно из рис. 4, в области контакта распределение компонента меняется по закону:
, (2)
где n0 – плотность чистого компонента. Плотность частиц компонента в области контакта меняется сложным образом. Однако приближенно ход кривой n(C) в области контактной прослойки можно аппроксимировать прямой
, (3)
где C – некоторая функция, описывающая распределение концентрации компонента в контактной прослойке.
Тогда из (2) и (3) следует, что
. (4)
При этом в области контактной прослойки величину можно приближённо считать постоянной. С учетом (3) перепишем (1) в виде
. (5)
С другой стороны согласно рис. 4, количество компонента, прошедшего через рассматриваемую плоскость равно:
. (6)
Тогда из (6) и (7) будем иметь:
. (7)
В области контактной прослойки можно перейти в (7) к частным производным , а затем к конечным приращениям , . При получим
, (8)
где и .
- Примеры расчета D в исследуемой системе Bi- (Sn + 3 ат. % In). а) Обработка концентрационных распределений компонентов C(x).
На рис. 5 представлено распределение компонентов C(x) в реальных контактных прослойках.
Рис. 5. Распределение компонентов в исследуемой системе
Как видно из рисунков, концентрация в точках пересечения CBi(x) и СSn(x) с определённым содержанием In, в зависимости от условии проведения эксперимента, незначительно отличаются друг от друга, причем при замедляющем направлении тока оно наибольшее (0.475, 0.47, 0.49, ат. %): соответственно отличаются и площадью dSi (заштрихованные области), отражающие количество молей продиффундировавших через них.
Из рис. 5 получим следующие данные, которые используются для расчета Di (табл. 1).
Таблица 1
Данные обмера xi (мм)
Номер образца | x1 | x0 | x2 | x3 |
№ 1 | 2.5 | 3 | 3.25 | 3.7 |
№ 2 | 3.25 | 3.65 | 3.75 | 4.5 |
№ 3 | 3.1 | 3.35 | 3.75 | 4.2 |
б) Пример расчета DBi (бестоковый вариант).
|
Для расчёта DBi по формуле (8) воспользуемся CBi(х)
приведённой на рис. 5, № 1, кривая 1.
Из рис. 6 следует что:
k – точка пересечения уровня n0 c прямой kx2;
Mx – плоскость, относительно которой вычисляется коэффициент диффузии D;
xNx2 – площадь криволинейного треугольника, которая пропорциональна количеству вещества, прошедшего через плоскость Mx; NC2 – прямая для приближенного расчета пло-щади C0NC2.
в) Результаты расчетов Di
В табл. 2 приведены значения Di по формуле (8) с уче-том влияния тока.
Рис.6. К расчёту DВI
Таблица 2
Значения параметров (рис. 6) и Di
Номер образца |
мкм |
мкм | ´ 10-3 | D, 10-5, см2/сек | Полярность |
№ 1 | 750 | 700 | 1.33 | 0.82 | бесток. |
№ 2 | 500 | 850 | 2.00 | 0.71 | замедл. |
№ 3 | 600 | 850 | 1.67 | 0.85 | ускор. |
Из табл. 2 видно, что значение коэффициента диффузии имеет наименьшее значение при замедляющем направлении тока потому, что электронный ветер «тормозит» подвижность ионов олова и индия [11].
Выводы
- В области контактной прослойки химсоединений между взаимодействующими компонентами не обнаружено.
- Методом РФЭС экспериментально подтверждена идея о стадийности ((твердо–жидкое) – (жидко-твердое) – жидкое) процесса образования и перехода твердых металлов в контакте в жидкое состояние, том числе при КП, осуществлённом в нестационарно-диффузионном режиме. Эта зона чётко просматривается при взаимодействии жидкой контактной прослойкой и твёрдым Bi.
- Установлено, что замедляющее направление тока остановило образование и рост приконтактной области со стороны Bi, что отразилось на концентрации компонентов в жидкой части контактной прослойки. Подтверждением тому является увеличение концентраций Bi и Sn в точке пересечения их концентрационных распределений.
Установлен факт увеличения концентрации In (более чем в 2 раза) в приконтактной области чистого Bi по сравнению с концентрацией, содержащейся в твердом растворе (Sn + 3 ат. % In). Такое протекание процесса характерно для бестокового и замедляющего вариантов опытов. Возможно, это связано усадкой объёма Bi при переходе в жидкое состояние.
Список литературы
1. Камаль В., Гудо Э.С. Влияние быстрого затвердевания на структуру и свойства некоторых бессвинцовых припоев // Материалы и производственный процесс. 2006. Т. 21. С. 736-740.
2. Сенгупта С., Содо Х., Маклин А. Эволюция микроструктуры эвтектического сплава висмут – индий – олово // Журнал материаловедения. 2005. Т. 40. С. 2607-2610.
3. Ахкубеков А.А., Орквасов Т.А., Созаев В.В. Контактное плавление металлов и наноструктур на их основе. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2008. 152 с.
4. Рогов В.И., Савинцев П.А. Контактное плавление металлов. Нальчик: КБГУ, 1983. 97 с.
5. Ахкубеков А.А., Карамурзов Б.С. Связь параметров диффузии и электропереноса компонентов бинарных расплавов при контактном плавлении // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28, № 2. С. 60–66.
6. Ахкубеков А.А., Ахкубекова С.Н., Багов А.М., Калажоков З.Х., Тамаев Т.Х. Влияние электронных взаимодействий на кинетику и формирование структуры контактных прослоек и влияние на них электропереноса. Рентгеноспектральный анализ // Физика поверхностных явлений, межфазных границ и фазовые переходы, 2018. С. 141–145.
7. Пауэлл К.Дж. Рекомендуемые параметры оже для 42 элементарных твердых частиц // J. Electron Spectrosc. Ссылка. Phenom. 2012. V. 185. Is. 1-2. P. 1-3.
8. Песса М. Вуористо А. Вульвиус М. Аксела С. Вайринен И. Рантала Т. Аксела Х. Твердотельные эффекты в оже-спектрах M4, 5N4,5N4, 5 для элементов от 49In до 52Te / / Физика. Оборот. 1979. B. 20. P. 3115.
9. Ашхотов О.Г., Ашхотова И.Б. Исследование окисления поликристаллического индия кислородом методом электронной оже-спектроскопии // ЖФХ. 2019. T. 93, № 4. С. 584–86.
10. Ким С.Л. Стадии взаимодействия жидкого металла с твердым // Вестник ТГАСУ. 2017. № 3. С. 149–154.
11. Ахкубеков А.А. Диффузия и электроперенос в низкоплавких металлических системах при контактном плавлении: дисс... д-ра физ.-мат. наук. Нальчик, КБГУ, 2001. 312 с.
Об авторах
Анатолий Амишевич АхкубековРоссия
Светлана Наниевна Ахкубекова
Россия
Эльдар Магомедович Узденов
Россия
Рецензия
Для цитирования:
Ахкубеков А.А., Ахкубекова С.Н., Узденов Э.М. ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И РАСПРЕДЕЛЕНИЕ КОМПОНЕНТОВ В КОНТАКТНЫХ ПРОСЛОЙКАХ ПРИ НАЛИЧИИ ЭЛЕКТРОПЕРЕНОСА В СИСТЕМЕ Bi – (Sn + 3 ат % In). Известия Кабардино-Балкарского государственного университета. 2022;12(4):20-25.
For citation:
Akhkubekov A.A., Akhkubekova S.N., Uzdenov E.M. PHASE COMPOSITION, DISTRIBUTION OF COMPONENTS IN THE DIFFUSION ZONE OF CONTACT LAYERS IN THE PRESENCE OF ELECTRIC TRANSFER IN THE Bi – (Sn + 3 at % In) SYSTEM. Proceedings of the Kabardino-Balkarian State University. 2022;12(4):20-25. (In Russ.)
JATS XML


